HEGEDÜS, Ferenc. TXRF Spektrometer zum Nachweis von Spurenelementen . CHIMIA, [S. l.], v. 46, n. 12, p. 477, 1992. DOI: 10.2533/chimia.1992.477. Disponível em: https://www.chimia.ch/chimia/article/view/1992_477.. Acesso em: 27 sep. 2024.